產品目錄 白光干涉儀 查看全部 >> 展開 相關文章 白光干涉儀的原理和主要構成部分介紹 色差儀的分析方法原理 蘇州二次元的主要優勢和測量功能 美國西特天平技術理論 光柵尺與傳統編碼器的比較與選擇 推薦產品 日本柯尼卡美能達色差儀 光柵尺 你的位置：首頁 > 產品展示 > 白光干涉儀 > 產品展示 白光干涉儀 產品用途： 結合光學顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結合顯微物鏡與干涉儀、不需要復雜光調整程序，兼顧體積小、納米分辨率、易學易用等優點，可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量，適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測。應用領域包含：玻璃鏡片、鍍膜表面、晶圓、光碟/影碟、精密微機電元件、平面液晶顯示器、高密度線路印刷電路板、IC封裝、材料分析與微表面研究等。 型號： 更新日期：2024-11-06 ￥面議 共 1 條記錄，當前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉到第頁
